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    產品[

    x射線熒光膜厚儀

    ]資料
    如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: x射線熒光膜厚儀
    產品型號: X-RAY XDL 210
    產品展商: 德國菲希爾
    關注指數:18409
    產品文檔: 無相關文檔
    咨詢電話:0512-68050030
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    簡單介紹
    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL?是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。

    x射線熒光膜厚儀

       的詳細介紹
    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210型X 射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。英文FISCHERSCOPE X-RAY XDL。

    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210典型的應用領域有:

    ? 測量大規模生產的電鍍部件

    ? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

    ? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

    ? 全自動測量,如測量印刷線路板

    ? 分析電鍍溶液

    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。*多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。XDL X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210設計理念:

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。

    XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統

    高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以**定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作,測量數據的計算,以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。XDL 型光譜儀是安全而保護**的測量儀器,型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規規定。


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用規范:

    用途

    能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構,分析合金和微量組分。

    元素范圍 *多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素設計理念 臺式儀器,測量門向上開啟

    測量方向 從上到下

    X 射線源

    X 射線源 帶鈹窗口的鎢管

    高壓 三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調整

    孔徑(準直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)

    測量點

    取決于測量距離及使用 的準直器大??;實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。

    *小的測量點大小約Ø 0.16mm.

    測量距離,如測量腔體內部

    0 ~ 80 mm,未校準范圍,使用磚利保護的DCM 功能

    0 ~ 20 mm,已校準范圍, 使用磚利保護的DCM 功能

    X 射線探測

    X 射線接收器 比例接收器

    樣品定位

    視頻顯微鏡

    高分辨 CCD 彩色攝像頭, 用于查看測量位置

    手動調焦或自動聚焦

    十字線刻度和測量點大小經過校準

    測量區域照明亮度可調

    激光點用于**定位樣品

    放大倍數 20x ~ 180x (光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

    樣品臺 XDL 210

    設計 固定式樣品平臺

    *大移動范圍 -

    X/Y 平臺移動速度 -

    X/Y 平臺移動重復精度 -

    Z 軸移動范圍 -

    可用樣品放置區域 463 x 500 mm

    樣品*大重量 20 kg

    樣品*大高度 155/90/25 mm

    激光定位點 -

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL

    鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210電氣參數:

    電壓,頻率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

    功率 *大 120 W (不包括計算機)

    保護等級 IP40


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210儀器規格:

    外部尺寸 x x [mm]570 x 760 x 650

    重量 XDL21090 kg;XDL22095 kg ;XDL230105 kg;XDL240120 kg

    內部測量室尺寸 x x [mm]: 460 x 495 (參考“樣品*大高度”部分的說明)

    環境要求

    操作溫度 10°C 40°C / 50°F 104°F

    儲藏或運輸溫度 0°C 50°C / 32°F 122°F

    空氣濕度 ≤ 95 %,無結露


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210計算系統:

    計算機 帶擴展卡的計算機系統

    軟件

    標準: WinFTM® V.6 LIGHT

    可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER


    x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾
    FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210執行標準:

    CE 合格標準 EN 61010

    X 射線標準 DIN ISO 3497 ASTM B 568

    型式許可

    安全而保護**的測量儀器,型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV

    法規規定。

    如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號。

    涂裝 相關儀器:涂層,漆膜度測,電解膜,黏度計/度計,X,附著,微型,分光,霧影,反射率,,涂膜干時間記錄儀,標準光源

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